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絕緣材料測(cè)試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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絕緣漆耐電弧試驗(yàn)機(jī)設(shè)備*HCDH-III測(cè)試儀器

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絕緣漆耐電弧試驗(yàn)機(jī)設(shè)備*HCDH-III測(cè)試儀器采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過程中可在線觀察試驗(yàn)曲線；自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù)，并可存取、顯示、打印。本試驗(yàn)儀器采用上位機(jī)控制，操控軟件采用LabVIEW編寫，人性、智能化。
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絕緣材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)設(shè)備*HCDH-III

更新時(shí)間：2025-01-02

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絕緣材料耐電弧試驗(yàn)機(jī)設(shè)備*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗(yàn)方法。
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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III

更新時(shí)間：2025-01-02

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小電流介質(zhì)材料耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗(yàn)方法。
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計(jì)算機(jī)控制耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III測(cè)試儀器

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計(jì)算機(jī)控制耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III測(cè)試儀器適應(yīng)于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測(cè)試
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小電流絕緣漆耐電弧試驗(yàn)儀*HCDH-III

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小電流絕緣漆耐電弧試驗(yàn)儀*HCDH-III符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗(yàn)方法。
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HCTZ-2S讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

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讀數(shù)穩(wěn)定手持式四探針測(cè)試儀器可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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HCTZ-2S自動(dòng)修正手持式四探針測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

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自動(dòng)修正手持式四探針測(cè)試儀器可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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HCTZ-2S液晶顯示手持式四探針測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

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液晶顯示手持式四探針測(cè)試儀器，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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