熱釋電系數(shù)測試儀測試方法介紹
更新時間：2022-12-27 點擊次數(shù)：653
熱釋電系數(shù)測試儀是某些材料在溫度變化的作用下產(chǎn)生電荷的能力，具有熱釋電性的材料稱為熱釋電材料。通常，熱釋電材料宏觀電矩正端表面將吸引負電荷，負端表面吸引正電荷，直到電矩產(chǎn)生的電場全被屏蔽為止。
熱釋電系數(shù)測試儀工作時，當溫度變化，材料的宏觀電極化強度改變，屏蔽電荷失去平衡，材料表面多余的屏蔽電荷被釋放出來，形成可以檢測到的電流，這種效應稱為熱釋電效應。
熱釋電系數(shù)可用靜態(tài)法、動態(tài)法和積分電荷法測試，其中積分電荷法得到廣泛應用。該方法通過測量在電容器上積累的熱釋電電荷，測定剩余極化隨溫度的變化。
使用靜電計測得積分電容兩端電壓，輸出至函數(shù)記錄儀Y端，由于積分電容值遠大于試樣電容值，其兩端的電壓變化正比于試樣剩余極化的變化。同時，用X端記錄試樣溫度變化，可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線，微分該曲線，就可得到熱釋電系數(shù)。
測試設備的加熱油槽由銅制成，外殼接地以屏蔽外來信號的干擾，內(nèi)盛絕緣油，絕緣油應該浸沒試樣架和測溫熱電偶，外加保溫材料。熱電偶的工作溫度范圍為室溫至85℃，溫差電動勢大者為宜。
積分電容視試樣電容大小及熱釋電系數(shù)大小而定，一般為10μF。直流電阻不小于109Ω。靜電計輸入阻抗不小于1010Ω。函數(shù)記錄儀的相對誤差小于或等于1％。
整個系統(tǒng)放電時間常數(shù)不小于4×103s，相對于采用10μF積分電容而言系統(tǒng)總電阻大于5×108Ω。試樣要求全電極極化試樣，電阻R不小于109Ω，其尺寸為：面積1cm2，厚度t不小于0.5mm。
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