華測儀器電壓擊穿試驗儀的設(shè)備優(yōu)勢有哪些？

1、TVS瞬間抑制防護技術(shù)
電壓擊穿試驗儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護起不到任何作用。華測的TVS瞬間抑制防護技術(shù)，。
2、多級循環(huán)電壓采集技術(shù)
材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。 
3、低通濾波電流監(jiān)測技術(shù)
高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時，從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進行相應(yīng)處理。同時華測開發(fā)的保護模塊來保證采集精度與保護采集元件。
4、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)
采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，華測生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護系統(tǒng)，它*的雙系統(tǒng)互鎖機制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時，將瞬間切斷高壓技術(shù)，。
5、SPWM電子升壓技術(shù)
目前設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。便于維護等優(yōu)點是調(diào)壓器*的。